- 1.1緒論
- 1.2晶體及晶體的對(duì)稱性-1
- 1.2晶體及晶體的對(duì)稱性-2
- 1.3空間點(diǎn)陣
- 1.4倒易點(diǎn)陣及其應(yīng)用-1
- 1.4倒易點(diǎn)陣及其應(yīng)用-2
- 2.1X射線的本質(zhì)與產(chǎn)生
- 2.2X射線譜
- 2.3X射線與物質(zhì)的相互作用
- 3.1勞埃方程組
- 3.2布拉格方程
- 3.3衍射矢量方程
- 3.4厄瓦爾德圖解
- 4.1一個(gè)電子對(duì)X射線的散射
- 4.2一個(gè)原子對(duì)X射線的散射
- 4.3晶胞對(duì)X射線的散射-1
- 4.3晶胞對(duì)X射線的散射-2
- 4.3晶胞對(duì)X射線的散射-3
- 4.4小晶體對(duì)X射線的散射-1
- 4.4小晶體對(duì)X射線的散射-2
- 4.5多晶衍射的積分強(qiáng)度-1
- 4.5多晶衍射的積分強(qiáng)度-2
- 5.1粉末照相法
- 5.2衍射儀法-1
- 5.2衍射儀法-2
- 5.3衍射花樣的指標(biāo)化
- 6.1定性相分析-1
- 6.1定性相分析-2
- 6.2定量相分析
- 7.1宏觀內(nèi)應(yīng)力的測(cè)定
- 8.1織構(gòu)的定義與表示方法
- 8.2織構(gòu)材料的衍射花樣特征
- 8.3照相法測(cè)繪極圖
- 8.4衍射儀測(cè)繪極圖
- 8.5反極圖及其測(cè)繪方法
- 9.1電子顯微鏡的發(fā)展
- 9.2光學(xué)儀器的分辨本領(lǐng)與分辨率
- 9.3電磁透鏡與光學(xué)透鏡的比較
- 9.4電磁透鏡的特性
- 10.1照明系統(tǒng)
- 10.2成像系統(tǒng)
- 10.3觀察記錄、真空與供電系統(tǒng)
- 10.4主要部件的結(jié)構(gòu)與工作原理
- 11.1透射電鏡理論概述
- 11.2復(fù)型技術(shù)
- 11.3粉末試樣
- 11.4薄膜試樣
- 12.1電子衍射原理-1
- 12.1電子衍射原理-2
- 12.1電子衍射原理-3
- 12.2電子衍射花樣的標(biāo)定與分析-1
- 12.2電子衍射花樣的標(biāo)定與分析-2
- 12.3復(fù)雜電子衍射花樣-1
- 12.3復(fù)雜電子衍射花樣-2
- 13.1襯度的類型及特點(diǎn)
- 13.1衍射襯度的成像方式
- 13.2衍射襯度的運(yùn)動(dòng)學(xué)
- 13.3完整晶體的衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)分析
- 13.4非完整晶體的衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)分析
- 13.5衍射襯度的動(dòng)力學(xué)理論
- 14.1電子束與試樣的相互作用及掃描電鏡的構(gòu)造
- 14.2掃描電鏡的試樣制備
- 14.3電子通道花樣
- 14.4電子背散射衍射
- 15.1電子探針的原理和結(jié)構(gòu)
- 15.2波譜儀和能譜儀
一、課程在培養(yǎng)方案中的地位、目的和任務(wù)《材料結(jié)構(gòu)分析》是材料類(工學(xué))專業(yè)四年制本科生必修的一門專業(yè)基礎(chǔ)課,也可作為機(jī)械類、化學(xué)類等學(xué)科相關(guān)專業(yè)本科生、研究生的選修課。通過(guò)本課程的學(xué)習(xí),學(xué)生將掌握常用材料結(jié)構(gòu)分析方法的基本原理、儀器結(jié)構(gòu)及實(shí)驗(yàn)技術(shù),在實(shí)際工作中能根據(jù)不同結(jié)構(gòu)分析任務(wù),準(zhǔn)確選用材料結(jié)構(gòu)分析手段開(kāi)展相關(guān)科學(xué)研究,并能夠與專門從事X射線、電子顯微分析等材料結(jié)構(gòu)分析工作的實(shí)驗(yàn)人員共同設(shè)計(jì)試驗(yàn)方案,正確解析試驗(yàn)結(jié)果。二、課程的基本要求1、了解X射線及電子束與物質(zhì)相互作用的規(guī)律。2、了解晶體X射線衍射和電子衍射的幾何原理、強(qiáng)度理論。3、掌握多晶體X射線衍射的基本實(shí)驗(yàn)技術(shù)、分析方法及其應(yīng)用4、掌握透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析技術(shù)的原理和方法,學(xué)會(huì)分析攝照、分析電子衍射照片和衍襯照片。5、學(xué)會(huì)根據(jù)所研究對(duì)象和目標(biāo)選擇恰當(dāng)?shù)牟牧辖Y(jié)構(gòu)分析方法、制備送待檢樣品。
